Beispiel C: Schalldruckpegel in verschiedenen Richtungen

[ab SLIP 08 Vollversion]

Maschine an einer Gebäudefassade

Situation:

Zu einer Maschine vor einer reflektierenden Wand gibt es keine Angaben zur Schallleistung und Direktivität. Mit Messungen vor Ort wird der gerichtete Schalldruckpegel rund um die Maschine gemessen und auf die Distanz von 1m Abstand umgerechnet. Die Maschine befindet sich vor der senkrechten Gebäudemauer auf ca. 10 m Höhe.

Eingabe:

Eingabeoptionen:
Allgemeine Quelle
A-bewerteter Einzelwert [dBA]
Lp[1m] - Schalldruckpegel (1m Abstand)
Emissionspegel pro Winkel (Implizite Ditektivität)

K_t K_n
  

Bei der Berechnung nahe, vertikale Reflektoren ignorieren bis [m]:
1.0

Emissionen:

Winkel L
0 90
45 80
90 70
93 70
94 0

  Hinweise:
  • Mit der Annahme des Lärmpegels bei 93° wird die Berechnug mit Diffraktionen an der Oberkante und den Seitenkanten der Wand ermöglicht. Für die Seitendiffraktion muss in den Berechnungsoptionen die Diffraktion an vetikalen Kanten aktiviert werden.
  • Sämtliche Reflexionen an der Aussenwand sind in den Messwerte enthalten. Mit der Option Bei der Berechnung nahe, vertikale Reflektoren ignorieren werden die Reflexionen an der Aussenwand des Gebäudes im Umkreis von 1 m um die Maschine nicht berücksichtigt. Deswegen ist der angenommene Lärmpegel ab 94° irrelevant. Wäre diese Option deaktiviert und der eingegebene Pegel ab 94° signifikant (>60 dBA), dann würden durch die im Modell automatisch berechneten Reflexionen die Lärmbelastungen an den Immissionspunkten überschätzt.
  • Annahme: Die Messungen wurde nicht durch Bodenreflexionen beeinflusst.
    Falls bei der Messung vor Ort Bodenreflexionen eine Rolle spielen (v.a. bei schallharten Oberflächen, siehe Bodentyp), müssen von den gemessenen Schalldruckpegeln die Bodenreflexionen abgezogen werden. Falls der im Modell beschriebene Bodentyp schallhart ist, wird SLIP die Reflexionen nochmals berücksichtigen. Die Lärmbelastungen würden damit um bis zu 3 dBA überschätzt.
  • Für die Eingabe von Industriequellen, Terz- und Oktavbandspektren oder zusätzlicher Korrekturfaktoren siehe Beispiel A.